数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
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1-10 | 待定 | |
10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。
NA 提升至 0.55,突破 0.5μm 分辨率,可辨 量子点、半导体缺陷;13mm 工作距支持载物台微调,适配玻璃杂质、薄膜层间缺陷的近红外显微。
应用于:
近红外荧光细胞器观察、光伏膜缺陷定位、纳米颗粒尺寸分析。
NA | 0.55 | WD | 13mm |
±D.F | 0.91um | Φ24 Eyepiece Field of View | 0.48mm |
数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
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1-10 | 待定 | |
10- | 待定 |