平场设计 + NA=0.67，全视场边缘与中心清晰一致，适配 近红外探测器芯片、量子点阵列 成像；10mm 工作距支持细微调焦，适合超薄样品（≤5μm）的近红外超分辨观察。

应用于：

近红外探测器像素分析、量子点发光图案检测、单细胞荧光信号定量分析。