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VL Plan Fluor EPI 明视场观察物镜

产品编号: VL Plan Fluor EPI 20×

高倍全视场均匀清晰,NA 提升实现亚微米分辨,平场设计保障 4mm 视场(FN25÷20×)无边缘模糊。



应用于:

半导体芯片线路检测(消除彩边误判)、金属夹杂物分析(适配 DIC 增强立体感)。

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已配置规格

NAWDR±D.F
0.453mm0.6um1.4um
单价
总计
发货日期
待定
数量 价格(USD)发货日期
1-10待定
10-待定
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。
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