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VL CF Plan 明视场观察物镜

产品编号: VL CF Plan 20X

无限远校正,明场消色差;20× 中高倍 + NA=0.46,亚微米分辨率(0.60μm),工作距 3.1mm 适配常规样本。



应用于:

亚微米级结构的明场分析,如半导体芯片浅表层缺陷(微小裂纹、颗粒)、细胞亚结构(细胞器分布)观测。

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已配置规格

NAWDR±D.F
0.463.1mm0.60um1.29um
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总计
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待定
数量 价格(USD)发货日期
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10-待定
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