超长高工作距41mm 工作距几乎可容纳手指操作,适配大样品或需工具干预的场景;中低倍过渡:2.8μm 分辨力比 1X/2X 提升显著,兼顾视野与细节。
应用于:
电子元件检测(如 PCB 板)、矿物颗粒观察、大体积样品局部精细分析。