数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
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1-10 | 待定 | |
10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。
平场设计消除场曲,20mm 长工作距避免碰撞凸起;复消色差覆盖紫外(355nm)+ 可见光,成像无色边。
应用于:
液晶研发阶段 超薄样品测试(如实验级无玻璃基板);透明薄膜(如 OCA 胶)表面缺陷检测,或 半导体晶圆裸片观察(延伸场景)。
NA | 0.4 | WD | 20mm |
±D.F | 1.7um | Φ24 Eyepiece Field of View | 1.2mm |
数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
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1-10 | 待定 | |
10- | 待定 |