| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

NA=0.6 平衡分辨力(0.5μm)与工作距(9.5mm),无需油浸即可观察亚微米结构;平场设计价值凸显:20 倍下全视场清晰,适配 1″相机(0.48×0.64mm 视场)拍摄无畸变图像。
应用于:
细胞器 精细结构(如线粒体嵴、高尔基体);
半导体 电路线宽 测量(≤1μm 线宽);
薄膜 层间缺陷 检测(如光伏膜分层)。
| 数值孔径 | 0.6 | 工作距离 | 9.5mm |
| 物镜焦深 | 0.76μm | Φ24 目镜视场 | 1.2mm |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |