VL Plan Apo HR明场观察物镜

NA=0.6 平衡分辨力（0.5μm）与工作距（9.5mm），无需油浸即可观察亚微米结构；平场设计价值凸显：20 倍下全视场清晰，适配 1″相机（0.48×0.64mm 视场）拍摄无畸变图像。

应用于：

细胞器 精细结构（如线粒体嵴、高尔基体）；

半导体 电路线宽 测量（≤1μm 线宽）；

薄膜 层间缺陷 检测（如光伏膜分层）。