| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

纳米级细节还原,NA=0.42 + 复消色差,实现 0.7μm 分辨力(接近 550nm 波长下的衍射极限);平场设计确保小视场全范围清晰。
应用于:
半导体芯片缺陷、金属显微组织精细分析,长工作距离可兼容薄样品 + 显微硬度计压头,平衡高倍观察与操作安全性。
| NA | 0.42 | WD | 20.7mm |
| ±D.F | 1.6um | Φ24 Eyepiece Field of View | 2mm |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
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| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |