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VL Plan Fluor EPI BD 明暗视场观察物镜

产品编号: VL Plan Fluor EPI BD 20×

高倍全视场均匀清晰,NA 提升实现亚微米分辨,明暗场下无彩边干扰,支持 DIC 增强三维立体感。



应用于:

半导体芯片线路短路 / 划痕检测(暗场)、金属夹杂物分析(明场)、微小缺陷三维形貌观察(DIC 模式)。

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已配置规格

NAWDR±D.F
0.453mm0.6um1.4um
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数量 价格(USD)发货日期
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10-待定
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