VL Plan Fluor EPI BD 明暗视场观察物镜

高倍极限分辨（接近衍射极限），平场设计抵消场曲，半复消色差保障色彩无偏差，45mm 齐焦兼顾操作安全。

应用于：

半导体芯片纳米缺陷（线路缺口、纳米划痕）检测、超精密材料（石墨烯）微观观察、高倍暗场颗粒分析。