| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

采用平场半复消色差设计,消除场曲与红蓝光像差,全视场(25mm 范围)清晰无彩边;12mm 超长工作距离可直接观察厚样品(如金属块、带凸起的焊接件),或为探针 / 夹具预留操作空间。
应用于:
金属表面缺陷、芯片封装纹理等检测,45mm 齐焦换镜免重新对焦,提升产线效率
| NA | WD | R | ±D.F |
|---|---|---|---|
| 0.4 | 12mm | 0.7um | 1.7um |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |