平衡长工作距与高分辨率,10.4mm 工作距离保留操作空间,0.55μm 分辨率实现亚微米级观察;平场半复消色差保障全视场清晰、色彩精准。
应用于:
金属晶粒统计、芯片焊接点虚焊检测等 “需操作空间 + 精细观察” 的场景。