| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
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SiC-VUV-AG Photodetector
产品编号: SiC-180/200nm-1 X 1mm-AG8
适配 VUV 光刻掩膜纳米缺陷检测（捕捉亚微米级缺陷信号）、单分子层表面分析（高分辨率解析 VUV 光与超薄样品的相互作用）；依托 SiC 基低暗电流特性，8 档增益精准放大极弱 VUV 信号，真空法兰兼容≤10⁻⁴Pa 高真空环境，保障超高精度测量不受杂气干扰。
图片仅做展示
已配置规格
| Photosensitive Size | Response Time Constant | Outline Dimensions | Net Weight of the Detector |
|---|---|---|---|
| φ1mm | ＜1uS | 50mm X 38.9mm X 70mm | 0.10kg |
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型号
Photosensitive Size
Response Time Constant
Outline Dimensions
Net Weight of the Detector
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