| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

适配 VUV 光刻掩膜纳米缺陷检测(捕捉亚微米级缺陷信号)、单分子层表面分析(高分辨率解析 VUV 光与超薄样品的相互作用);依托 SiC 基低暗电流特性,8 档增益精准放大极弱 VUV 信号,真空法兰兼容≤10⁻⁴Pa 高真空环境,保障超高精度测量不受杂气干扰。
| Photosensitive Size | φ1mm | Response Time Constant | <1uS |
| Outline Dimensions | 50mm X 38.9mm X 70mm | Net Weight of the Detector | 0.10kg |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
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| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |