| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

“长距 + 中倍率” 平衡:30.5mm 工作距离与 5× 倍率结合,既保留大操作空间(适配夹具、光源),又将分辨率提升至 2.1μm,可观测中等细节(如 LCD 像素阵列、芯片封装轮廓)。多波段兼容:355-532nm 复消色差,支持 紫外激光加工与可见光观测同步(如激光切割区域的实时监控)。
应用于:
电子元件封装缺陷检测、激光微加工的 “区域级” 细节观测。
| NA | 0.13 | WD | 30.5mm |
| ±D.F | 16.3um | Φ24 Eyepiece Field of View | 4.8mm |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |