| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
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20X 款 17mm 工作距,优于常规 20×(普遍 < 10mm),适配芯片引脚、电路线宽等中等细节观测,平衡倍率与操作空间 。355nm 紫外捕捉光刻胶细节,532nm 可见光还原金属线路色,支撑半导体光刻 / 蚀刻双波段质检 。
应用于:
半导体电路线宽测量(≥0.7μm)、LCD 彩色滤光片缺陷检测。
| NA | 0.42 | WD | 17mm |
| ±D.F | 1.6um | Φ24 Eyepiece Field of View | 1.2mm |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |