| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

长工作距离 + 平场半消色差:12 毫米的工作距离可直接观察 20 毫米厚的金属块等样品。平场设计消除了场曲,确保整个视场(25 毫米范围)清晰无色差;明暗场切换:明场用于观察金属晶粒分布,暗场用于捕捉表面纳米级划痕,无需更换镜头即可提高效率。
应用于:
厚金属板表面缺陷的初步筛查、芯片封装的宏观纹理检测、带夹具样品的在线观察(长工作距离预留操作空间)。
| NA | 0.4 | WD | 12mm |
| R | 0.7um | ±D.F | 1.7um |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |