| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

平衡长工作距与高分辨率:10.4mm 工作距离保留操作空间,0.55μm 分辨率实现亚微米级观察;色彩精准性:半复消色差校正红蓝光像差,金属夹杂物、芯片焊接点等场景下无彩边干扰。
应用于:
金属晶粒细化剂分布分析(明场)、半导体晶圆亚微米缺陷定位(暗场)、精密模具型腔微观磨损检测。
| NA | 0.5 | WD | 10.4mm |
| R | 0.55um | ±D.F | 1.1um |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |