无限远校正,明场消色差;5× 低倍低 NA,却具超长工作距(22.5mm)、超大视场(5mm)、极深焦深(16.27μm),耐样本高低差。
应用于:
大尺寸、厚样本或需长操作空间的明场观测,如 3D 打印零件的宏观表面扫描、生物组织大切片的全局观察,可快速覆盖大范围样本。