无限远校正，明场消色差；10× 倍率与 NA=0.30 平衡，工作距适中，视场、分辨率兼顾宏观与微米级细节。

应用于：

常规明场观测，如细胞培养皿整体观察、小型精密零件（微米级划痕 / 结构）检测。