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VL CF Plan TI/DI 白光干涉物镜

产品编号: VL CF Plan 10X TI

倍率与数值孔径平衡,分辨率适配亚微米级结构,焦深适中,兼容中等粗糙度表面。



应用于:

可用于半导体芯片焊盘的几何特征(高度、间距)测量,或石墨烯、MoS₂等二维材料的褶皱、晶界观测(DI 技术增强结构对比度)。

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已配置规格

NAWDR±D.F
0.37.4mm0.92um3.06um
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待定
数量 价格(USD)发货日期
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10-待定
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