| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
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VL CF Plan TI/DI 白光干涉物镜
产品编号: VL CF Plan 50X TI
高 NA 带来纳米级分辨率（0.50μm），焦深较小，对平整表面的高精度测量更友好。
应用于：
半导体芯片的纳米级缺陷（如划痕、短路）检测，或光学薄膜（如光刻胶）的纳米厚度与平整度分析。
图片仅做展示
已配置规格
| NA | WD | R | ±D.F |
|---|---|---|---|
| 0.55 | 3.4mm | 0.5um | 0.91um |
