| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意：发货日期以上是因库存不足而调整的。
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VL CF Plan TI/DI 白光干涉物镜
产品编号: VL CF Plan 50X TI
高 NA 带来纳米级分辨率（0.50μm），焦深较小，对平整表面的高精度测量更友好。
应用于：
半导体芯片的纳米级缺陷（如划痕、短路）检测，或光学薄膜（如光刻胶）的纳米厚度与平整度分析。
注意事项
- 产品图片仅供参考，并不代表所有产品。
已配置规格
| NA | 0.55 | WD | 3.4mm |
| R | 0.5um | ±D.F | 0.91um |
