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VL CF Plan TI/DI 白光干涉物镜

产品编号: VL CF Plan 20X TI

中高倍率下进一步提升分辨率,适配更精细的亚微米结构,工作距离与焦深平衡。



应用于:

适用于 MEMS 器件(如微梁、微阀)的三维形貌检测,或金属材料晶界的微观分析(观测原子排列畸变)。

注意事项
  • 产品图片仅供参考,并不代表所有产品。

已配置规格

NA0.4WD4.6mm
R0.69um±D.F1.72um
单价
总计
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待定
数量
数量 价格(USD)发货日期
1-10待定
10-待定
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

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非接触式纳米级高精度测量
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