| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |
注意:发货日期以上是因库存不足而调整的。

超长大视野:2× 低倍率 + 30.5mm 超长工作距离,搭配 Φ24 目镜时实际视场达 12mm,可一次性覆盖大尺寸样品(如整片晶圆边缘),减少拼接观测误差。复消色差适配:针对 355nm 紫外与 532nm 可见光同步校正,适合 大范围样品的紫外 - 可见光双波段快速扫描(如半导体晶圆初步定位、LCD 面板全局检测)。
应用于:
工业产线对大尺寸样品的 “快速筛检”,或激光加工前的区域定位。
| NA | 0.055 | WD | 30.5mm |
| ±D.F | 90.9um | Φ24 Eyepiece Field of View | 12mm |
| 数量 | 价格(USD) | 发货日期 |
|---|---|---|
| 1-10 | 待定 | |
| 10- | 待定 |